X-Strata920 是一款高精度臺(tái)式 XRF 分析儀，具有多種選擇，可容納多種類(lèi)型的樣品。該分析儀非常適合測(cè)量各種基材上的鍍層，是必須確定產(chǎn)品質(zhì)量的電子產(chǎn)品、連接器、裝飾品和珠寶分析的理想選擇。

X-Strata920 X射線熒光鍍層測(cè)厚儀的優(yōu)勢(shì)在于其多功能性。您可以從多種配置中進(jìn)行選擇，包括五種基本配置以適應(yīng)不同尺寸的樣品、六種準(zhǔn)直器尺寸用于優(yōu)化分析不同尺寸的特征，以及有助于加快測(cè)量過(guò)程同時(shí)保持準(zhǔn)確性的附加自動(dòng)化功能。X-Strata920 易于使用，軟件直觀，可由非專(zhuān)業(yè)人員操作，并可輕松融入您的生產(chǎn)或質(zhì)量保證部門(mén)。

產(chǎn)品亮點(diǎn)

X-Strata920 X射線熒光鍍層測(cè)厚儀具有多種選項(xiàng)和多功能性，可容納各種樣品，每次都能提供精確的分析。

• 適應(yīng)性設(shè)計(jì)，可對(duì)各種產(chǎn)品進(jìn)行可靠分析

• 自動(dòng)對(duì)焦和可選的程控臺(tái)提高了準(zhǔn)確性和速度

• 直觀的 SmartLink 軟件使測(cè)量和導(dǎo)出數(shù)據(jù)變得容易

• 多準(zhǔn)直器設(shè)計(jì)為每個(gè)樣品提供高準(zhǔn)確性

• 選擇適合應(yīng)用的比例計(jì)數(shù)器或硅漂移檢測(cè)器 (SDD)

• 符合行業(yè)規(guī)范，例如 IPC-4552A、ISO3497、ASTM B568 和 DIN50987

• 簡(jiǎn)單的樣品加載和快速分析可在幾秒鐘內(nèi)提供結(jié)果

• 強(qiáng)大的光學(xué)分析單層和多層鍍層，包括合金層

對(duì)比型號(hào)